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二院201所成功研制微带隔离器通用测试夹具实现“降本增效”

发布时间:2018-09- 12    信息来源: 澳门皇冠二院    点击量:

近日,澳门皇冠二院201所“任翔创新工作站”成功研制出微带隔离器通用测试夹具,有效降低了测试成本,大幅提升了此类器件的测试效率。该测试夹具可对近十种不同封装的微带隔离器进行测试,具备测试频段宽、测试精度高、测试效率高、测试成本低以及不损伤器件等特点。该夹具投入生产后,将在解决测试任务需求的同时进一步实现“降本增效”。

微带隔离器广泛应用于通信、遥测、定位等系统中收发通道天线端的连接和隔离,用于功率放大器输出端的反射保护,用于系统、组件模块中线路驻波的改善和器件隔离,具有体积小、工作频段高等特点,特别适合小型化组件设计和集成电路使用。

由于微带隔离器在测试中,无法直接与同轴接口的微波测试设备相连进行测试,必须设计专用的测试夹具实现。鉴于微波器件无损测试的特殊性,以往每种封装的微波器件的测试都需要设计一款专用夹具,夹具通用性低,设计加工成本高。再加上传统的测试方法需要在信号的输入输出端采用金丝键合,金丝的使用又进一步抬高了测试成本。这些都为此类器件的大批量测试带来了通用性差、效率低、成本高以及易损伤器件等诸多问题。针对此种现状,201所“任翔创新工作站”技术人员主动出击,积极在微波器件通用测试夹具设计开发方面进行技术攻关,成功研制了该款微带隔离器通用测试夹具。

近年来,伴随着电子系统不断向高性能化、高集成化方向的发展,新工艺、新类别、新功能的微波器件不断增多,对微波器件测试技术也提出了更高的要求。在今后的工作中,201所“任翔创新工作站”将继续开展技术攻关,进一步加强元器件可靠性核心技术能力建设。(文/任翔 杜晴)

 

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